GE-XP谷物品質(zhì)圖像分析系統(tǒng)應(yīng)用圖像自動(dòng)分析系統(tǒng)測定谷物雜質(zhì)和不完善粒的檢測設(shè)備。適用于各類谷物的檢測。該系統(tǒng)集計(jì)算機(jī)技術(shù)與圖像處理技術(shù)于一體，通過CCD攝像機(jī)、進(jìn)料機(jī)構(gòu)、驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)和出料機(jī)構(gòu)以及圖像自動(dòng)采集系統(tǒng)，經(jīng)圖像處理和BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的分類算法，達(dá)到對于標(biāo)準(zhǔn)麥、破損麥和異種糧霉變糧的自動(dòng)識別。

主要性能指標(biāo)：
        1. 稻谷：未熟粒、蟲蝕粒、病斑粒、生芽粒、霉變粒。識別準(zhǔn)確率≥95%
        2. 小麥：破損粒、蟲蝕粒、病斑粒、生芽粒、霉變粒。識別準(zhǔn)確率≥95%
        3. 玉米：破損粒、蟲蝕粒、病斑粒、生芽粒、霉變粒、熱損傷粒。識別準(zhǔn)確率≥95%
        4. 大米：堊白粒率、粒型、黃粒米、堊白度。識別準(zhǔn)確率≥95%

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